Simcenter T3ster | 熱阻量測設備代理 晶片溫度量測 | 晶片熱阻量測 合研科技代理的熱阻量測設備-Simcenter T3ster 是一款先進且無損耗的瞬態熱量測儀,可以用於量測半導體和多晶片模組設備的熱阻特性,可支援測試如,IC晶片、BJT、MOSFET、IGBT和LED晶片等設備。Simcenter T3ster 能有效的量測真實的瞬態熱結果,於1微秒反應的測試下精確值高達 ±0.01° C。後處理量測結果可輸出為結構函式圖表,該圖表顯示了沿著熱路徑的熱容、熱阻以及封裝材料特性,此結果可應用於模型校正,進而增加了散熱設計的準確性。 Simcenter T3ster 產品特色 滿足JEDEC51-14標準實現JEDEC51-1竟特測試1us電源切換、1us量測解析度、64K儲存空間結構函式分析內部結構操作流程簡便 Simcenter T3ster 應用範圍 量測節點或表面溫度測定瞬態熱阻、接觸熱阻瞭解內部結構、材料屬性分析製造缺陷、可靠度測試評估系統散熱性能 相關連結 -原廠網站資訊